比較測角儀

可廣泛適用于光學及機械制造業中，計量部門、車間以及研究院、所的實驗室。實施光學棱鏡、光學平板的自準測量、參照標準角規對金屬零件及光學零件的比較測量；導軌的直線度及平板的平面度校準測量；兩個平面的垂直度、軸與軸端面垂直度測量等。
　　該系列儀器操作簡便、直觀，測量穩定可靠，借助輔助設備用途廣泛。

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產品詳情

光學測角比較儀 XQ60-ZⅠ XQ15-ZⅡ

XQZ光學測角比較儀

用途和特點：
　　可廣泛適用于光學及機械制造業中，計量部門、車間以及研究院、所的實驗室。實施光學棱鏡、光學平板的自準測量、參照標準角規對金屬零件及光學零件的比較測量；導軌的直線度及平板的平面度校準測量；兩個平面的垂直度、軸與軸端面垂直度測量等。
　　該系列儀器操作簡便、直觀，測量穩定可靠，借助輔助設備用途廣泛。

技術參數：

型號 Model	示值 Graduation	分度范圍 Scale Range	目鏡放大倍率 Magnification	示值不確定度 Uncertainty	工作距離范圍 working range	外形 Dimension(D×W×H)
XQ60-ZⅠ	1′	V60′,H40′	10×/15×	±6″	0～1.4m	200×250×400
XQ15-ZⅡ	15″	V50′,H38′	20×	±3″	0～1.4m	200×250×400

選配件：
　　CCD監控系統（適用ZI、ZII型）

比較測角儀